晶振测试仪系列介绍

晶振是一种通用频率元件，以材质可分为石英晶振，陶瓷晶振；以封装可分为贴片晶振，插件晶振；从供电方式可分为有源晶振和无源晶振。一般的晶振作用是产生频率源，晶振有不同的频率,可以使电路工作在稳定的频率范围之内，它是给IC提供基础时钟。在无线通信、卫星通信、移动电hua、定位系统、导航、遥控、航kong航天、高速计算机、精密计测仪器、物联网通信、消费类电子、工业自动化、安防类、医疗仪器、汽车电子等行业领域内，几乎应用于所有的电子设备中。

晶振的性能直接影响着各种集成电路应用，比如：晶振频率偏差过大导致的时钟偏移、定时偏差、无线频率偏差等等。

晶振测试仪系列主要参数：

1.频率：常用的晶振频率为8MHz、25MHz等，如单片机中常用8MHz晶振。

2.稳定度：指在规定的工作温度范围内，与标称频率允许的偏差，用ppm（百万分之一）表示，一般晶振稳定度在50ppm以下。

3.波形种类：晶振波形一般是正弦波或者方波。

4．电压：常用的有1.8V、2.5V、3.3V、5V等，其中3.3V应用zui广，也有很少的高压应用，如12V或以上。

5.温度范围：工业级标准规定的-40～+85℃。对于某些特殊场合如航天军yong等，对温度有更苛刻的要求。

6.相位噪声：相位噪声是频谱纯度的度量，所以一般的晶振相噪更低，如TCXO或OCXO（恒温晶振）。

7.封装：有插件(DIP)、贴片(SMD)封装，插件如长方形的DIP4封装，正方形的DIP8封装等，贴片有7.0*5.0、6.0*3.5mm，5.0*3.2mm，3.2*2.5mm，2.5*2.0mm等封装。

其中zui重要的指标是频率稳定度。所谓高稳，就是频率稳定度非常好的晶振，如很少受外界温度的影响，老化慢。