产品概述

局部放电的定义及产生原因在电场作用下，绝缘系统中只有部分区域发生放电，但尚未击穿，（即在施加电压的导体之间没有击穿）。这种现象称之为局部放电。局部放电可能发生在导体边上，也可能发生在绝缘体的表面上和内部，发生在表面的称为表面局部放电。发生在内部的称为内部局部放电。而对于被气体包围的导体附近发生的局部放电，称之为电晕。由此 总结一下局部放电的定义，指部分的桥接导体间绝缘的一种电气放电，局部放电产生原因主要有以下几种：

• 电场不均匀。
• 电介质不均匀。
• 制造过程的气泡或杂质。zui经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡；其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同，也会逐渐出现裂缝；再有一些是在运行过程中有机高分子的老化，分解出各种挥发物，在高场强的作用下，电荷不断地由导体进入介质中， 在注入点上就会使介质气化。

产品用途
GDJF2006 局部放电检测分析系统（局放仪）由三大模块构成：信号处理模块，隔离模块，采集处理模块。根据系统连接图，检测阻抗将局部放电信号检出并送到信号处理模块，信号处理模块完成将局部放电信号整理、放大、整形等功能后将局部放电信号送往隔离模块，隔离模块将计算机采集处理模块和信号处理模块隔开，防止它们之间互相干扰，zui后由采集处理模块完成对局部放电信号的采集.处理.分析和显示
 

产品特点

• 采用高速.大容量数据采集卡，能进行连续采集局放数据,数据复现性好,准确度高。
• 具有测试.分析(多参数分析.二维图谱分析.三维图谱分析).数据保存。报告生成及打印等功能
• 能同时显示局部放电波形（椭圆。正铉波。直线三种方式）。局放量和测试电压。
• 在校正和测试过程中自动调节增益而不需要人为干预，操做简便.
• 可适应工频（50Hz）三倍频（150Hz）zui 搞至400Hz的电源。
• 可实现对外加电源频率的自动跟踪.
• 开门开窗可任意设置zui小可至1度。
• 可单通道也可六个通道进行测量.
• 体积小，重量轻。既适合于电力部门和制造厂车间等现场使用，也适合于科学研究试验。
• 灵敏度高，适用的试品范围广等优点。

  技术参数

   

  可测试品的电容量范围	6pf～250μf
  检测灵敏度	<0.02pc（电容50pf时）
  放大器	3db低端频率f1 10、20、30。50。80kHz任选，3db频率fh 100 、200、300、400、500kHz任选
  	增益调节范围>120db,档间增益差20±1db。正、负脉冲响应不对称性<1db
  时间窗	窗宽1 о ～360 о ,窗位置可任意旋转
  试验电压表	0～200kV,数字表显示时误差＜3%F.S
  采集通道	4通道/卡
  输入阻抗	1MΩ
  采集卡zui gao采样率	20MHz
  AD分辨率12BIT。直流精确0.2%
  每通道采样长度	8M
  触发方式	手动、外触发、内触发
  采集卡带宽	3MHz（-3DB）
  重量	约15kg