霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。

该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知*度。仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可。

本仪器系统由：电磁铁、高精度电源、高斯计、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架、系统软件。

自动化霍尔效应测试系统组成：

高精度磁铁电源

※ 双极性恒流输出

① 电源输出电流可在正负额定★大电流之间连续变化；

② 电流可以平滑过零点，非开关换向；

③ 输出电流、电压四象限工作（适合感性负载）；

④ 电流变化速率可设置范围为0.0007～0.3 F.S./s(F.S.为额定★大输出电流）。

※ 电流稳定度高，纹波低

①电流稳定度：优于±25ppm/h（标准型），优 于±5ppm/h（高稳型）；

② 电流准确度：±（0.01%设定值+1mA）； 

③ 电流分辨率：20 bit，例 15A 电源，电流分辨率为 0.03mA；

④ 源效应：≤ 2.0×10-5 F.S.（在供电电压变化 10%时，输出电流变化量）；

⑤ 负载效应：≤ 2.0×10-5 F.S.（在负载变化 10%时，输出电流变化量）；

⑥ 电流纹波（RMS）：小于1mA。

 霍尔样品架:

用于固定，焊接霍尔器件，四探针压点使接触更方便牢。高精度高斯计：分辨力：0.01Gs，量程：0-±3T，精度：0.1% ，标准 232 数字接口与控制端口。

电压电流数采仪：

恒流源量程：±50nA-±50mA，分辨力 0.1nA 在量程范围内连续可调，高 精 度 电 压 数 采 仪 范 围 0. 1uV-30V，精度：.01%内置测试矩阵转换卡，

 电磁铁：

极头直径 50mm.NS间距10mm时*大磁场1.07T，间距 20mm 时*大磁场 0.7T，可实现在*大磁场范围内连续，变化（可调）自重 30 公斤。

欧姆接触套件 ：

专业做欧姆接触用铟片以及相，应焊接套装，材料标准样片，硅片，砷化镓 2 阻值：300-500 欧姆。

测试系统软件：

定位采集，数字温度显示，I-V，曲线及 I-R 曲线测量，得到体载，流子浓度等各类参数曲线图形。