性能指标

X射线光源 Cu靶，陶瓷X光管，电压≤40kV，电流≤40mA 样品台 样品台水平固定，适合测试松散固体、块状固体、薄膜等 测角仪 精度高，角度重现性达±0.0001o，最小步长为0.0001o，可θ，2θ单独驱动，工作模式为θ/θ模式，步进马达 + 光学编码器确保测角仪快速而准确定位 探测器 新型Lynxeye-XE半导体探测器，具有灵敏度高，信号强高的特点

主要应用

样品的物相分析（定性分析） 晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布 物相定量分析 薄膜物相鉴定，薄膜高温分析 测量纤维或高分子样品的物相、取向度等 织构分析 应力分析

样品要求 

粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径1-50μm（大尺寸块体需研磨后过250目筛），粉末样品量约需1g。 块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤5mm，直径≤2cm。 特殊样品：极少量的粉末、非晶条带样品等。微量粉末样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。 告知测试的起始角度，2θ角扫描范围须在5°～120°之间 若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知 送样人需尽量提供样品中所含的元素种类 易变质样品需提前与仪器操作人员联系，预约测试时间 剧毒样品需特别注明 请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。

仪器说明

D8 DaVinci型X射线粉末衍射仪样品台水平固定，适合测试松散固体、块状固体、薄膜样品等。配置有高、低温（-180~450度）附件、薄膜附件、PLynxeye探测器、强大的智能化多用途软件平台。主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析；晶体物相的定量分析；晶体材料微结构的表征（晶胞参数的精密测定，晶粒大小，微应力等）；薄膜材料的研究；掠入射小角X衍射；结晶度分析等。 该仪器已对交大材料学院、化工学院、生命学院、药学院、环境学院等各学院及多家校外企事业单位提供了测试服务。该仪器在材料的物相分析上为校内外客户提供了很好的服务并取得了丰硕的成果。每年发表包括该仪器为表征手段的文章百余篇。