１．概述

1.1 简介

TY-ABR-1000 装置，在本公司制造的自动双折射测量装置（TY-ABR-1000 系列）的基础上增设了应力载荷装置，由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是，采用配置的拉伸/压缩试验机，对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。

双折射测量的方式，由于采用光学外差法的普通光路干涉仪，及通过Fourier分析法进行数据处理的方式， 其特点是速度快，精度高，并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman激光器（输出2 mW）作为光源，尽量减少设备构成中的光学部件，实现了*使用过程中，基本上无需维护的构造。

１．２ 特点

◎测量时间 3秒以下/测量点

◎解析度 双折射相位差：0.01nm  

                  主轴方位角：0.1deg.

◎精度 应力松弛可控制到*小化

◎负载量 量程0～50N  *小读数0.01N

                 （收费选项：添加可切换式量程）  

◎测量位置确认 可通过目测来确认测量位置

◎操作简单 根据菜单指示用鼠标进行简单操作

◎***用于研究及质量管理

１．３ 双折射测量原理

本设备使用由两个线性偏振光分量（f1，f2）组成的稳频激光器（STZL），两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路，并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号（fb = f1-f2）为几百kHz，可以通过示波器或电相位计读取。

以此方式，样品的光学相位差（δ）被转换为拍频信号的相位差（δ），并且可以容易地被测量。如图所示，通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向（φ）。

○ 相位差：Rｅ

Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d  

・λ ：光源波长

・δ ：实测相位差

・ｎＳ,ｎＦ ：主折射率

・ｄ      ：样品厚度

○ 主轴方位角：φ

１．４ 主要规格

１．４．１ 光弹性常数的测量性能及规格性能

规格

１．４．２ 双折射测量性能及规格性能

规格

１．４．3 装置外形

光弹性测量装置 型号TY-ABR-1000

１．５ 测量例

１．５．１ 光弹性常数测量

光弹性常数TAC（三乙酰纤维素）薄膜  

歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纤维素）薄膜