日本nanogray B射线测厚仪SB-1100

这是使用β射线（β射线）的测厚仪（薄膜测厚仪）。以非接触方式（β射线）测量片材和板状物体的厚度和密度（基重）。不是直接测量厚度，而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度（基重）。
　通常，为了测量片材宽度方向的厚度分布，检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段，但如果激光位移计安装在扫描仪上，在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
　另一方面，在β射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中，测量的是空气层-样品-空气层与渗透之间的衰减，但样品的衰减远大于，传输的影响只表现为空气层厚度的变化，影响很小。因此，可以高精度地进行测量。

β射线测厚仪的一般特点

1. 可以在不依赖元素的情况下测量基重。
   

与传统的 β 射线测厚仪相比，我们的 β 射线测厚仪的特点

1. 无需设置资质或控制区域（认证设备带显示）
   

2. 探测器和 β 射线源体积小、重量轻，即使在狭窄的线路中也可以安装。
   

用途

• 塑料薄膜（多层挤塑薄膜等）
  

• 电池电极（锂离子电池（负极/正极）、镍氢电池等）
  

• 玻璃纤维布
  

• 陶瓷片
  

• 铜箔、铝箔、不锈钢箔

日本nanogray B射线测厚仪SB-1100