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日本funatec目视检查灯FY-18系列 光学测量仪
￥100000
日本sunenergy紫外线表面杀菌灯HSW系列 光学测量仪
面议
日本saga强光紫外线检查灯FLS-LED8UV-C 光学测量仪
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日本saga固定型LED目视检查灯LH-LED20D 光学测量仪
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日本saga带脚轮立式LED目视检查灯 光学测量仪
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日本saga灯架型LED目视检查灯ZLS-LED20D 光学测量仪
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日本saga柔性臂式LED目视检查灯 光学测量仪
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日本saga无线型LED目视检查灯 光学测量仪
面议日本saga无线型LED高输出目视检查灯 光学测量仪
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日本saga手持式LED目视检查灯 光学测量仪
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日本shimatec目视检查灯MOKUSHISU-150
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日本h-repic目视检查灯SPA2-10SDZ
面议日本cew光学微缺陷检测设备CEW
光学分辨率1.8μm，速度检测！
用于基板和金属表面的缺陷检测！
使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率，可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。
自动保存检测数据和图像
摄像头像素：900万像素
高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。
适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。
用于检查触摸面板和异物等缺陷！
触控面板周边电极缺陷检测
板材表面划伤和异物检查
基板缺陷检查
系统配置
日本cew光学微缺陷检测设备CEW
光学分辨率1.8μm，速度检测！
用于基板和金属表面的缺陷检测！
使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率，可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。
自动保存检测数据和图像
摄像头像素：900万像素
高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。
适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。
用于检查触摸面板和异物等缺陷！
触控面板周边电极缺陷检测
板材表面划伤和异物检查
基板缺陷检查
