成立于1819年，Jobin Yvon公司的总部设在高科技发达的法国首都――巴黎。在近二百年的发展中，Jobin Yvon公司始终遵循着创建以来的一贯宗旨――高品质，使公司一直处于世界光栅及光谱仪生产的较地位。

自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了*六大仪器制造集团――Horiba公司，完成了公司强强联手。如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家，其分支机构遍布。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外，还提供各种类型的光谱仪产品，如：激光拉曼光谱仪（Raman），荧光（寿命）光谱仪（FL），直读火花光谱仪（SPARK），电感耦合等离子发射光谱仪（ICP），辉光放电光谱仪（GDS），椭圆偏振光谱仪（Ellipsometry），特殊搭建系统（System）及各种光学光谱器件（成像光谱仪，光源，IR检测器，CCD检测器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼（光谱仪）部、发射（光谱仪）部、荧光（光谱仪）部、法医部、光学仪器部、光栅&OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的与科研保障。

用途：
JY 辉光光谱仪- GD-PROFILER能够对固体样品的（包括导电性及非导电性材料）进行表面逐层分析，界面分析及样品整体成分分析，而且具有这些分析所需的高灵敏度和高的深度分辨率。
• 化学热处理 – 碳化、氮化、碳氮化等 。
• 镀锌板（热镀锌、锌铁合金化、锌铝合金化等）。
• 镀锡板、磷化、铬化等。
• PVD / CVD 涂层等。
• 铝、铅复层
• 薄的有机膜涂层
• 彩涂板
• 半导体、太阳能电池、玻璃、陶磁

技术参数：
GD-Profiler 系列包括2 种型号，全部装备RF 射频光源，每种型号均有多种选配件，用于满足不同用户的测试要求和预算。GD-Profiler2 可测试多种样品，有着*的性价比，GD-Profiler HR 是目前商品化的辉光光谱仪中性能较高的，二者均可分析导体和非导体的固体样品。广泛应用于传统的镀锌/锡板（彩涂板）、汽车工业、航天、热处理（渗碳/渗氮）、陶瓷工业、玻璃工业、表面污染以及当前在欧美和日本科研与工业对半导体电子（液晶面板/硬盘/芯片）、新能源（锂电池/LED/光伏）研究与分析应用可以替代原来只能依赖的SIMS(二次离子质谱)或XPS（光电子能谱仪）。与其相比之下GDS 做到更高效、更快速、更经济等多方面优势，受到越来越多的科研工作者的认可与青睐，刮起一股从西方到东方席卷的辉光新风尚。
*RF 射频发生器- 标准配置，符合E 级标准，稳定性高，溅射束斑极为平坦，等离子体稳定时间极短，表面信息无任何失真。
*脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜，也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
*多道(同时)型光学系统可全谱覆盖，光谱范围：110nm 至800nm，包含远紫外，可分析C, H, O, N, Cl
*HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测，动态范围达到10 个量级
*宽大的样品室方便各类样品的加载
*功能强大的QUANTUMT XP 软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
*激光指点器(CenterLite laser pointer)可用于精确定位
*Jobin Yvon 的单色仪(选配件)可*的提高仪器的灵活性，可同时测定N+1 个元素

主要特点：
Jobin Yvon 所生产的辉光放电发射光谱仪(RF-GD-OES)采用射频(RF)光源，可以进行导体和非导体材料的基体、表面、逐层分析，是一种快速的、操作简单的分析手段。
GDS 是一种理想的表面、逐层分析工具，分析深度高达几百微米，深度分辨率可精确至原子层。Jobin Yvon 所生产的辉光放电光谱仪(GD)全部采用技术的HDD(High Dynamic range Detection)检测器，可以实时、自动优化工作参数，在灵敏度和动态范围不受任何损失的情况下，一个分析通道就能*同一元素在不同层面内微量和主量的测定。
GD-Profiler2 可以快速、同时分析七十余种元素，包括氮、氧、氢和氯元素，是一种用于薄膜(包括涂层、镀层、渗层等)成份和工艺分析的理想工具。
GD-Profiler2 采用脉冲工作模式的RF 光源，可以有效地分析热传导性能差和热敏感的样品。应用领域包括腐蚀与防腐、PVD、CVD、过程控制，也可用于日常的金属和合金的产品质量控制与检测。