XS分析天平

XS105DU/205DU/64/104/204/204DRXS分析天平

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-07-21 09:39:35
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广州澳金工业自动化系统有限公司

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产品简介

梅特勒-托利多XS分析天平,配合其创新选件SmartGird,为快速高效精准的称量过程设立了全新标准。

详细介绍

性能特点:

●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

●*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁

●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作

●触摸屏(TouchScreen):背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

●网格秤盘(SmartGird):有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。

适用范围

● ErgoClips(选件):易巧称量组件,可轻松放置圆底烧瓶、试管等去皮容器,实现微量样品的直接称量

●密度测定1):轻触一下按键,启动密度测定程序,天平将指导您逐步完成操作步骤并自动计算触密度结果。

1)需订购密度组件(选件)配合使用。

技术参数

型号

大称量值

[g]

可读性

[mg]

重复性(sd)

[mg]

线性误差

[mg]

典型稳定时间

[s]

秤盘尺寸

(W×D)[mm]

XS105DU

41/120

0.01/0.1

0.02/0.1

0.2

4/1.5

78×73

XS205DU

81/220

0.01/0.1

0.02/0.1

0.2

4/1.5

78×73

XS64

61

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS104

120

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS204

220

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS204DR

81/220

0.1/1

0.1/0.7

0.5

3.5/1.5

78×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

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