主要技术参数

    型号

工作室（W×D×H)（mm）

外型（约）（W×D×H)(mm）

提篮作室（W×D×H)（mm）

GDCJ-100-3

450×450×500

1700×1250×1700

150×150×200

GDCJ-150-3

500×500×600

1750×1300×1800

200×200×300

GDCJ-225-3

500×600×750

1750×1400×1900

200×350×350

GDCJ-250-3

600×600×700

1850×1400×1900

300×300×350

GDCJ-408-3

600×800×850

1850×1500×1950

300×500×500

GDCJ-500-3

700×800×900

1950×1500×2000

400×500×500

GDCJ-800-3

800×1000×1000

2000×1700×2200

500×600×600

GDCJ-010-3

1000×1000×1000

2200×1700×2200

600×600×600

低温室温度范围： RT～-70℃ 按要求定制

高温室温度范围： RT～+200℃ 按要求定制

冲击温度范围：-20℃~+160℃、-40℃~+160℃、-50℃~+160℃、-60℃~+160℃、-70℃~+160℃、-80℃~+160℃、-100℃~+160℃    可以按照要求选定冲击温度范围

注：可以根据客户要求，定制非标尺寸

产品特点

该冲击试验箱为待测品动态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱有三箱结构，分为高温区，低温区，常温区，常温区即产品测试区，通过高温区和低温区的风门控制切换冲击温度。

符合标准

1.GB/T2423.22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

4.GJB150.5-1986温度冲击试验

主要性能参数

温度偏差

≤±2.0℃(空载)

温度波动

≤±0.5℃(空载)

试样放置方式

动态（产品移动式）

降温时间

RT～-70℃约50分钟(空载)

升温时间

RT～+200℃约50分钟(空载)

温度回复时间

≤5min

温度转化时间

≤5s

试样移动方式

气动

控制系统

显 示 器

7寸真彩触摸屏控制仪表，操作简单，设定方便，控温精度0.01℃，超出1200段编程

运行方式

程序或定值两种控制方式自由转换