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高分辨率背照式CCD光纤光谱仪
美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪SM642是一款专为弱光谱探测量身打造高性价比光谱仪。配置非制冷型的紫外增强的背照式CCD探测器,像素高达2048,同时具有很高的动态范围。确保在更宽的光谱探测范围内拥有很高的光谱分辨率。
通信接口采用通用的USB 1.1/2.0,16-bit精度。配套SM32Pro Windows操作软件易学易用,同时包含有SDK和DLLs,可供二次开发。
产品特点 * 高性价比,科研级性能 * 低噪声,低杂散光 * 高信噪比和较好的动态范围 * 高紫外增强探测器 * 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选 * 高速获得数据 * 波长范围覆盖200-1050 nm * 为弱光条件新升级的自动快门 |
型号 | SM642 |
探测器 | Hamamatsu S10420-1106非制冷背照式CCD 像素:2048×64 像元:14μm×14μm 阱深:200 ke- 量子效率: >90% @650nm, 65% @250nm |
光谱范围 | 200-1050 nm |
分辨率 | 0.15 to 10nm(取决于光栅和狭缝) |
杂散光 | <0.01% at 632nm (<0.05% Ave) |
F/# | 3.3 |
暗噪声rms | < 7 counts in 16bit @35ms |
信噪比 | >450: 1 |
最小积分时间 | 7 ms |
数据接口 | USB 1.1/2.0 16 bit |
光纤接口 | SMA905/FC |
触发模式 | 自由运行模式 软件触发 硬件触发:(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出 |
软件 | SM32Pro (free with spectrometer) |
尺寸 | 5.98 H X 3.94 W X 2.50 D |
重量 | 2.7 lbs. |
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