美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪

SM642美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-07-07 15:42:54
317
属性:
波长范围:200-1050 nm;分辨率:> 0.15nm;
>
产品属性
波长范围
200-1050 nm
分辨率
> 0.15nm
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上海润芒光电科技有限公司

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产品简介

美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪SM642是一款专为弱光谱探测量身打造高性价比光谱仪。配置非制冷型的紫外增强的背照式CCD探测器,像素高达2048,同时具有很高的动态范围。确保在更宽的光谱探测范围内拥有很高的光谱分辨率。

详细介绍

高分辨率背照式CCD光纤光谱仪

美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪SM642是一款专为弱光谱探测量身打造高性价比光谱仪。配置非制冷型的紫外增强的背照式CCD探测器,像素高达2048,同时具有很高的动态范围。确保在更宽的光谱探测范围内拥有很高的光谱分辨率。

通信接口采用通用的USB 1.1/2.0,16-bit精度。配套SM32Pro Windows操作软件易学易用,同时包含有SDK和DLLs,可供二次开发。

产品特点

* 高性价比,科研级性能

* 低噪声,低杂散光

* 高信噪比和较好的动态范围

* 高紫外增强探测器

* 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选

* 高速获得数据

* 波长范围覆盖200-1050 nm

* 为弱光条件新升级的自动快门

型号

SM642

探测器

Hamamatsu S10420-1106非制冷背照式CCD

像素:2048×64

像元:14μm×14μm

阱深:200 ke-

量子效率: >90% @650nm, 65% @250nm

光谱范围

200-1050 nm

分辨率

0.15 to 10nm(取决于光栅和狭缝)

杂散光

<0.01% at 632nm (<0.05% Ave)

F/#

3.3

暗噪声rms

< 7 counts in 16bit @35ms

信噪比

>450: 1

最小积分时间

7 ms

数据接口

USB 1.1/2.0 16 bit

光纤接口

SMA905/FC

触发模式

自由运行模式

软件触发

硬件触发:(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出

软件

SM32Pro (free with spectrometer)
Includes DLL libraries and SDKs for easy custom application development

尺寸

5.98 H X 3.94 W X 2.50 D

重量

2.7 lbs.

了解更多关于美国SP高分辨率背照式CCD光纤光谱仪的产品和应用信息,请直接联系上海润芒光电科技有限公司。

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