BRUKER Dektak 8探针轮廓仪

BRUKER Dektak 8探针轮廓仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-04-02 14:19:16
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上海人和科学仪器有限公司

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产品简介

Dektak8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀..

详细介绍

      Dektak 8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。的X–Y方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak 8系统对于MEMS,纳米技术和半导体应用都非常方便。

 

主要特点:

1. 台阶高度测量重复性高
2. 是功能强大的探针轮廓仪,可限度的满足各种应用需要
3. 简单易用
4. 作为一款桌面型轮廓仪,扫描范围可达200mm

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