紫外可见近红外分光光度计　V-7000Series

▼概要
V-7000系列能研究看不见的世界，紫外可见近红外分光光度計。
采用双单色器,把光学系统和电气系统相结合,实的性能,主要用于光学材料以及光学设备的分光特性评价和薄膜膜厚测量。
根据用途有3种型号可供选择。 V-7100紫外可见区域专用型号,V-7200采用近红外区域用检测器PbS光导电元件,测量范围可至3300nm广波长型号,V-7300是采用InGaAs光电二极管检测器实现近红外区域高信噪比。

▼特征
双单色器的型号
根据测量波长范围和灵敏度不同，可分为3种型号
实的测量范围+/-8.0Abs
采用超低杂散光设计
实现波长分解0.049nm的高分辨率(紫外可见区域)
采用日本分光的光分析装置软件JASCO光谱管理器，电脑控制

▼ND滤光片的数据
用两种不同的滤光片各1枚和2枚重叠共进行了3种测量。2枚合在一起测量结果和各一枚测量结果加起来计算的值，通过比较发现，宽波长领域和测光范围一致。可以了解到测光范围的面积和线形性的高度。

▼Co(NO₃)₂硝酸钴水溶液的数据
显示了Co(NO₃)₂硝酸钴水溶液的光谱和在511nm通过吸收求得的检量线。可以看出从 吸光度超过 6的高浓度到低浓度都可以测到良好的直线性。

◆专用配件

▼测量反射率装置
能自动测量各种固体样品的偏角。用于半导体,薄膜,胶卷,光学元件,光设备的分光特殊性评价以及膜厚测量。











▼小型积分球
用于粉末样品,悬浮液,有凹凸的固体表面的漫反射测量。


◆规格
▼V-7100/7200/7300

型号 7100 7200 7300 光学系 立体配置Littrow型接口 双单色器双光束方式 光源 氘灯　卤钨灯　水银光源（校正用） 波长范围 185～900nm 185～3300nm 185～1800nm 分辨率 0.049nm以下（UV/VIS） 0.049nm以下（UV/VIS） 0.2nm以下（NIR） 0.049nm以下（UV/VIS） 0.1nm以下（NIR） 波长准确性 ±0.08nm（190～800nm） ±0.08nm（190～800nm） ±0.40nm（800～3000nm) ±0.08nm（190～800nm） ±0.20nm（800～1700nm） 测光范围 +/－8.0Abs 光源 （选项） 高辉度陶瓷光源 卤素灯、水冷式高圧水银光源 测光精度 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）使用双光圈 基线稳定性 0.0002Abs/Hr以下 基线平坦性 ±0.0012Abs（200～850nm） ±0.0012Abs（200～3000nm） ±0.0012Abs（200～1700nm） 杂散光 0.00007%以下 220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2） 0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.0003%以下1420nm H2O 光路长1cm） 0.00048%以下 2365nm （CHCl3 光路长1cm） 0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.00005%以下1420nm （H2O 光路长1cm） 检测器 光电子増倍管 光电子増倍管 冷却型PbS光导电素子 光电子増倍管 冷却型InGaAs光电二极管 定量测定 1,2,3波长演算、检量线：一次、二次、三次式、比例、折线 Logistic函数、样条函数 测定光谱 测光方式：Abs,%T,%R 数据处理功能：检测波峰，波峰高度（比） 波峰面积（比）、半值宽、追迹、放大、微分、 平滑度、Abs/%T/%R变换 K-M变换、K-K变换、四则演算、基线补正、差光谱、 除去不要波峰 去卷积、FFT滤光片、除去数据补间、横轴变换：cm-1,μm,eV,nm 测定时间变化 测光方式：Abs,%T,%R、数据处理功能：动力学、追迹、 测定固定波长 可最多同时测量8个波长 程序 JASCO光谱管理器 表示 日本语 尺寸?重量 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg