植被地物光谱测量与分析
品牌
其他厂商性质
所在地
安洲科技不同型号地物光谱仪可提供植被指数的自动化处理功能。
植被指数(VI)是两个或多个波长范围内的地物反射率组合运算,以增强植被某一特性或者细节。所有的植被指数要求从高精度的多光谱或者高光谱反射率数据中计算。未经过大气校正的辐射亮度或者无量纲的DN值数据不适合计算植被指数。
其中包括进行宽带绿度、窄带绿度、光合有效辐射等多种植被指数的计算。这些植被指数可以简单度量绿色植被的数量和生长状况、叶绿素含量、叶子表面冠层、叶聚丛、冠层结构、植被在光合作用中对入射光的利用效率、测量植被冠层中氮的相对含量、估算纤维素和木质素干燥状态的
碳含量、度量植被中与胁迫性相关的色素、植被冠层中水分含量等。