ELIAS-WAVEMETER 系列中阶梯光谱仪
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ELIAS-WAVEMETER
发射谱线分析光谱仪系列
ELIAS I 固定用于193nm波长的光谱分析的型的中阶梯光栅光谱仪,在利特罗(Littrow)结构中拥有的光谱解析能力-用于高分辨率的发射和吸收谱线的分析,尤其是准分子激光光刻技术。
· Intensity dynamics of up to 4 orders
· 光谱解析能力 (2.5 million-10 million)
· *成像质量
· 简单易操作
· Motorized optomechanics
ELIAS的超高分辨率得益于超大中阶梯光栅的应用及与之匹配的光路设计——中阶梯光栅通过非常高的衍射级次可获得*的理论分辨率(femtometer level);LTB的工程师通过两个方面的设计实现超大中阶梯光栅的理论分辨率:
· 逼近衍射极限的消色差成像光路
· 足够高的线色散来确保以5~10个像素(CCD)来解析光谱谱线的半高宽;
ELIAS利用宽达360mm的超大中阶梯光栅(Echelle grating)以利特罗(Littow)自准直结构构成光路;ELIAS不同于靠干涉方式测量光谱的分析设备,ELIAS的中阶梯光栅的高衍射级次及高级次等效于零级的衍射能量分布,可通过CCD实现宽光谱直拍,因此ELIAS非常适合脉冲激光光谱的分析应用(通过外部TTL触发可协同激光器工作)。ELIAS可以配置背照型科学级CCD作为探测器可获得非常理想的信噪比(104)
规格参数(Specifications)
可探测信号模式 | CW/Pulsed |
可探测光谱范围 | 190~1100nm(157nm possible) |
光谱解析能力(λ/∆λ) | 8,800,000 |
光谱分辨率 | 22fm@193nm |
光谱精度 | 0.1pm |
光谱窗口 | >0.8nm |
可探测脉冲能量 | <10μJ |
信号输入模式 | Fiber,SMA,Mirror,Free Space |
校准方式 | full auto/Manual;Hg(Neon)Lamp |
触发模式 | TTL+5V |
工作环境要求 | 温度:10~30℃;湿度:<65% |
ELIAS WAVEMETER :ELIAS I固定用于193nm波长的光谱分析的型号
Model | ELIAS WAVEMETER |
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Wavelength [nm] | λsimul [pm] |
193 | 50 |
Wavelength [nm] | FWHM [pm] |
193 | 0.34 |
应用领域(Application)
· 激光诱导击穿光谱(LIBS)
· 准分子激光光刻技术
· 测量二极管激光器的光谱、时间稳定度和固态激光器的发射谱线