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所在地
主要参数 | |
TEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
TEM 点分辨率 | < 0.30 nm |
STEM 分辨率 | 0.20 nm |
HRTEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
HRTEM 线分辨率 | 0.10 nm |
HRSTEM 分辨率 | 0.20nm |
EDS立体角(sr) | 0.18/0.80 |
的图像
高衬度、高质量TEM和STEM成像,可同时进行多信号检测,最多可使用四通道集成STEM探测器。
超稳定镜筒和远程操作与智能凸轮和恒功率物镜的快速模式和HT开关。针对多用户环境的快速、轻松切换
大的极靴分析间隙、180°台倾斜范围和大的z范围允许您添加层析成像样品杆、原位样品杆等
所有日常的TEM校正,如焦点、优中心高度、中心光束偏移、中心聚光光阑和旋转中心都是自动化的。
灵活的能谱分析揭示了化学信息。