半导体、晶体、集成电路检测用显微镜

UB-6500半导体、晶体、集成电路检测用显微镜半导体、晶体、集成电路检测用显微镜

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具体成交价以合同协议为准
2024-08-06 09:00:39
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产品简介

工业显微镜广泛应用于半导体,电子工业进行晶体,集成电路的检验和科学研究.配备有反射照明,成象和观察系统,偏光装置

详细介绍

UB-6500工业显微镜Ⅳ型IndustrialMicroscope

广泛应用于半导体、电子工业进行晶体、集成电路的检测和科学研究,配备有反射照明、成像和观察系统,可进行明场和偏光观察。
技术参数:
1、无限远光学系统,管镜焦距:200mm,
2、五孔转换器,长工作距离物镜,齐焦距离:95mm,物镜螺纹:M26X0.7,
3、JW-95系列物镜,用于可见光成像系统,也可以用于非可见光成像系统;
4、铰链式三目镜筒,30度角,瞳距55-75mm,
5、高眼点大视场目镜WF10X/23,
6、双层活动移动平台,移动范围:150X150mm,移动手轮松紧可调,
7、同轴粗微动调焦机构,微动格值:0.002mm,
8、垂直照明器:12V50W卤素灯照明,配有中心可调的孔径可变光栏和视场可变光栏;
9、滤色片:蓝色和中性滤色片,
10、偏光系统:检偏镜可以360度旋转;

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