偏振相关损耗测试仪PDL-201

偏振相关损耗测试仪PDL-201

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具体成交价以合同协议为准
2021-08-20 12:24:31
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产品简介

产品简介:采用最小搜索技术,PDL测试仪能在30ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650nm,无需波长校准,比基

详细介绍

详细信息

产品简介:

采用最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL,插入损耗(IL和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIBRS-232接口,用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。

主要技术参数:

 

波长:

1260-1620 nm

分辨率

0.01 dB

PDL 精确度1,2,3

±(0.01 + 5% of PDL) (dB)

PDL 重复性1

±(0.005 + 2% of PDL) (dB)

PDL 动态范围4

0 to 45 dB

IL 精确度1,2,3

±(0.01 + 5% of IL) (dB)

IL 重复性1

±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)

IL 动态范围4

0 to 45 dB

输入光功率

-40 to 6 dBm

光功率精度

±0.25 dB

波长校准( 功率测量)

1260-1360 nm  1440-1620 nm

测量速度

30 ms/ (input >-30 dBm)

操作温度

0 to 50

存储温度

-20 to 70

光连接器类型

光源、 DUT 输入:APC

DUT输出

自由空间适配器

模拟输出

0-4V PDL监控电压 (用户自定义PDL范围)

(0-3.5V PDL线性变化, 4V 指示低功率)

电源供应

100240VAC, 5060Hz

通讯接口

USB, Ethernet, RS-232, and GPIB

尺寸

2U, 19 半架宽度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)

备注:数据在23±5°C温度下,10组平均值所得。精确的偏振相关损耗测试还取决于测试设置。输入功率 0 dBm,用户自定义功率计测量模式。

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