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WDS-X系列液晶数显式电子试验机(经济型/悬臂
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WDW-E系列微机控制电子试验机(标准型)(CE)
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WDS-XD系列数显式电子试验机(大变形/悬臂式
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WDW-S液晶数显式电子试验机
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CMT5000大门式微机控制电子试验机(20t-30t)
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CMT5000大门式微机控制电子试验机(50t-60t)
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CMT6000系列台式微机控制电子试验机
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万辰UTM5000系列微机控制电子试验机(双柱落地
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万辰UTM4000系列微机控制电子试验机(双柱落地
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万辰UTM6000系列微机控制电子试验机(双柱桌面
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UTM2000系列微机控制电子拉力试验机
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CMT8000系列微机控制电子试验机
面议 用途与特点
CST-50冲击试样缺口夏比投影仪是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。
本冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前 切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的仪器。
主要技术参数
1. 放大倍数：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作台位移：纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm(无刻度)；
4. 工作台转动范围：0～360о（无刻度）；
5. 光源：卤钨灯12V 100W;
6. 电源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 约18kg。
