主要特点：
- 多种不同温度的炉体，适用广泛

- 可同时安装双炉体

- NanoEye位移测量系统，实现全量程范围内高分辨率与线性度

- 全量程范围内接触力可调，可施加极小的接触力，保证样品不受破坏

- 可自动测量样品长度

- MultiTouch触控设计，确保样品位置稳固

- *的真空密封炉体，确保样品测量气氛

- 丰富的高级DIL测试分析功能扩展

技术参数：
- 温度范围：-180 … 2000°C（不同炉体）
- 灵敏度：0.1nm
- 量程：±25000µm
- 样品载荷：10mN … 3N，可变，可调制（选配）
- 测试模式：单样品/双样品，样品长度自动检测
- 支架类型：氧化铝、熔融石英、石墨
- 测试气氛：真空、氧化、还原、惰性
- 样品形态：固体、液体、粉末
- 功能：c-DTA®（选配）、谱图检索（Identify）（选配）、速率控制烧结（RCS）（选配）
- Nanoeye位移传感及载荷控制技术
- Multitouch技术

* 价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。* 价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。