涂层测厚仪HC-655

HC-655涂层测厚仪HC-655

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2022-08-22 15:12:12
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产品简介

它采用计算机技术,无损检测技术等多项*技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度。

详细介绍

 
涂层测厚仪HC-655特性
本仪器是用电池供电的便携式测量仪器,采用磁感应和电涡流原理。测量方法符合标准ISO2178,ISO2360和国家标准GB4956,GB4957.它采用计算机技术,无损检测技术等多项*技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度.
F型探头可直接测量导磁材料表面上的非导磁覆盖层厚度,NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝缘覆盖层厚度。探头具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头,不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量,而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样值。
数字背光显示,无视差。规格显示器4位数字背光液晶标准测试范围0-1250 um(其他测量范围可订制)
*小曲面:F:凸1.5mm/凹25mm N:凸3mm/凹50mm
*小测量面积:6mm*薄基底:0.3mm
测量精度:±1-3%n或2.5μm
分辨率: 0.1μm/1μm
电源:2节7号电池。
操作条件:温度0-40℃,湿度< 95%
尺寸:126x65x35 mm  重量:85 g(不包括电池)
电池电压指示:低电压提示
涂层测厚仪HC-655标准附件:
便携盒............1只   铁基.............1块    铝基.............1块
说明书............1份   校准膜片..........1套(膜片的实际厚度详见包装)
可选附件:1.RS232C通讯电缆和软件USB适配器   2. 蓝牙通讯和软件
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