梅特勒XP微量天平的详细介绍
梅特勒XP微量天平性能特点
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
●GWPExcellence
TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
最小称量值（Minweigh）功能：可设置多达3个符合不同质量法规（GMP/GLP/USP）的最小称量值，满足相关质量法规要求，获得无懈可击的称量帮助。
梅特勒XP微量天平技术参数
| 型号 | 称量值
[g] | 可读性
[mg] | 重复性（sd）
[mg] | 线性误差
[mg] | 典型稳定时间
[s] | 秤盘尺寸（W×D）
[mm] |
| XP26 | 22 | 0.001 | 0.0025 | 0.006 | 3.5 | 40×40 |
| XP26DR | 5.1/22 | 0.002/0.01 | 0.002/0.008 | 0.01 | 3.5/2.5 | 40×40 |
| XP56 | 52 | 0.001 | 0.006 | 0.02 | 3.5 | 40×40 |
| XP56DR | 11/52 | 0.002/0.01 | 0.002/0.014 | 0.03 | 3.5/2.5 | 40×40 |
DR=变量程；sd=标准偏差
