梅特勒XS微量天平的详细介绍
梅特勒XS微量天平技术参数
| 型号 | 称量值[g] | 可读性[mg] | 重复性(sd)[mg] | 线性误差[mg] | 典型稳定时间[s] | 秤盘尺寸[mm] |
| XS3DU | 0.8/3.1 | 0.001/0.01 | 0.0008/0.006 | 0.01 | 6 | Ø27 |
DU=双量程；sd=标准偏差
梅特勒XS微量天平性能特点
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellence
TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
