梅特勒XS系列分析天平的详细介绍
梅特勒XS系列分析天平性能特点●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellence
TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
触摸屏（TouchScreen）：背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂，帮助您有效节省操作时间。
网格秤盘（SmartGird）：有效降低称量室中气流对称量的影响，从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错，样品会直接散落在网格秤盘（SmartGird）下的金属底盘上，因而不会影响称量结果，且不浪费您的样品。
梅特勒XS系列分析天平技术参数
| 型号 | 称量值
[g] | 可读性
[mg] | 重复性（sd）
[mg] | 线性误差
[mg] | 典型稳定时间
[s] | 秤盘尺寸
（W×D）[mm] |
| XS105DU | 41/120 | 0.01/0.1 | 0.02/0.1 | 0.2 | 4/1.5 | 78×73 |
| XS205DU | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.02/0.1 | 0.2 | 4/1.5 | 78×73 |
| XS64 | 61 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| XS104 | 120 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| XS204 | 220 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| XS204DR | 81/220 | 0.1/1 | 0.1/0.7 | 0.5 | 3.5/1.5 | 78×73 |
DR=变量程；DU=双量程；sd=标准偏差
