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EDX 8000H真空型X荧光光谱仪介绍

时间:2023-06-16      阅读:143

EDX 8000H真空型X荧光光谱仪介绍


应用领域

矿石分析、合金检测、有害元素检测(RoHS、卤素)、全元素分析、镀层测厚分析等。X 射线荧光光谱仪分析具有制样简单、分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点,随着 X 射线荧光光谱分析技术的不断推广,利用 X 射线荧光光谱仪分析仪检测已成为很多行业质量控制的主要手段。


性能介绍


01技术参数


元素分析范围 : 钠(Na)~ 铀(U)


分析元素含量范围 :PPM~99.99%(不同材质,分析范围不同)


任意多个可选择的分析和识别模型


相互独立的基体效应校正模型


多变量非线性回归程序


环境温度 :15-30℃


同时分析元素 : 一次可同时分析几十种元素


测试时间 :50-200s


电源 : 交流 220V±5v,建议配置交流净化稳压电源


能量分辨率 :129±5eV


样品腔尺寸 :400*340*80mm


仪器尺寸:700*510*336mm


仪器重量:56kg


分析精度:0.05%(含量高于 96% 以上的精品,21 次测试稳定性)


高真空系统、高分辨率SDD硅漂移数字多道型电制冷探测器


02性能优势


◆ 下照式:可满足各种形状和状态的样品测试需求,固体、液体、粉末都可进行快速无损检测



◆ 高分辨率电子制冷探测器:良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,最新数字多道技术,测试速度更快,测试精度更高


◆ 新一代高压电源和 X 光管:高效超薄窗 X 光管,指标达到国际水平,低能 X 射线激发待测样品,对铝硅、磷等轻元素激发效果更好


◆智能抽真空系统:屏蔽空气的影响,大幅扩展仪器测试范围


分析方法


01有损分析光谱法


AAS、ICP、AFS 在前处理方面跟化学滴定法相差不多,都必须把样品制成溶液,其对微量元素分析精度高,要求分析测试人员素质高专业性强、测试时间短、人为误差少等特点。用于实验室环境条件下。


02无损分析光谱法


X 荧光法应用于材料分析的特点也很明显,分析速度快、前处理简单,样品无损、人为误差小、分析范围广、低检出限达到ppm 级等的特点,可以测液体、固体和粉末样品。


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