XRF贵金属分析仪原理

由高能X射线激发原子电子层，使得原子核外电子发生跃迁，造成二次X射线能量释放，因不同的元素释放的能量具有不同特性，探测系统测量这些能量和数量，从而计算元素含量。

主要组成部件

高压-光管-探测器与前放-主放-DPP-控制模块-通信模块-显示系统等

X射线应该分析仪结构方框图 

XRF贵金属分析仪优势和特点

。超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

。易于使用，一键操作，即可获得克拉等级及组成成份的分析结果

。有助于识别镀金样件的创新型功能

。机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

。按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件的化学成份和克拉等级的精确结果

。使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

。用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户对测试信心

性能及配置：

分析范围1ppm to 100 %

精度RSD≤0.05% Au≥90%

测试样品的物理状态固体、粉末、液体

感兴趣元素贵金属Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

基本金属Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

仪器环境要求

环境温度15° C~30° C

相对湿度35%一70%