T-450 镀层测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

产品性能

稳定性 :T-450 有着良好的长期稳定性，不需要经常校准仪器。

无需制备样品 : 无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

综合性能 : 镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

技术参数

T-450 镀层测厚仪工作特点

·测量 5 层 (4 层镀层 + 底材层 ) 镀层，同时分析 15 种元素， 自动修正 X 射线重叠谱线

·测量精度高、稳定性好，测量结果精确至 uin

·快速无损测量，测量时间短，最快 10s 内得出测量结果

·可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析

·材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析

·强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值等

·结果输出：直接打印或一键导出到 PDF、Excel 文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等

·测量位置预览功能；高分辨率彩色 CCD 样品观察系统，标准光学放大倍数为 30 倍

·提供全球服务及技术支持