UT450可穿透涂层测厚仪

1 概述

本仪器是超声波测厚仪，基于超声波测量原理，可以测量金属、非金属材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。与传统的测量方法相比，超声波测厚仪的优点在于它只要能接触被测工件的一面即可完成厚度测量。

UT450可穿透涂层测厚仪具有多模式超声测厚功能，允许使用者在发射-回波模式（检测缺陷和凹坑）和回波-回波模式（不计入涂覆层厚度）之间进行自由切换。UT450可穿透涂层测厚仪可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域。

1.1UT450可穿透涂层测厚仪 技术参数

多模式测厚功能：发射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式。

测量范围：发射-回波模式下，(0.65～600)mm（钢中，探头分段适用）；

回波-回波模式下， (3～30)mm（钢中，P5EE探头）

声速范围：(1000~9999) m/s：

分 辨 率： 0.1mm/0.01mm可选

示值精度：±(0.5%H+0.01)mm，H为被测物实际厚度

测量周期：单点测量时每秒钟7次、扫描模式每秒钟16次；

存储容量：可存储20组（每组*多100个测量值）厚度测量数据

工作模式：具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式

显 示 屏：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

单 位 制：公制或者英制（可选）

工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池）

持续工作时间：大于50小时（不开背光时）

通讯接口：USB1.1

外形尺寸：150mm×74mm×32 mm

整机重量：245g

1.2 主要功能

u 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；

u 具有两种测厚模式：发射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂层进行厚度测量而不计入涂层厚度；

u 具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正；

u 已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；

u 具有耦合状态提示功能；

u 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；

u 有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；

u 具有自动休眠、自动关机等节电功能；

u 带有USB接口，可以方便、快捷地与PC机进行数据交换。

u 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；

u 可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；

u 小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；

UT450可穿透涂层测厚仪 仪器配置

UT450可穿透涂层测厚仪探头选择