Ux-700镀层厚度检测仪
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| 产品介绍： 本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多很好条件的选择，保证测试结果的准确性。 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。 Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。 Ux-700镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。 产品指标： 测厚技术：X射线荧光测厚技术 测试样品种类：金属镀层，合金镀层 测量下限：0.003um 测量上限：30-50um（以材料元素判定） 测量层数：10层 测量用时：30-120秒 探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：149eV 高压范围：5-50Kv，50W X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类； 光管靶材：Mo靶； 滤光片：专用镀层滤光片 CCD观察：260万像素 微移动范围：XY15mm 输入电压：AC220V，50/60Hz 测试环境：非真空条件 数据通讯：USB2.0模式 准直器：Ø0.5mm 软件方法：FlexFP-Mult 工作区：开放工作区 自定义 样品腔：70*20mm 整机重量：38kg 镀层测厚方法： 1.磁性涂层测厚法 使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。 2.涡流层层测厚法 可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度 3.X射线荧光法 所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。 常用单位： 微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil） 1um=39.4迈， 1um=0.04mil |
