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金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪产品简介:
产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:镀层厚度测试仪
型 号:iEDX-150WT
生产商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司
产品图片:
金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪 iEDX-150WT特点:
工作条件 | |
●工作温度:15-30℃ | ●电源:AC:110/220VAC 50-60Hz |
●相对湿度:<70%,无结露 | ●功率:150W + 550W |
产品优势及特征
(一)产品优势
1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。
2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm。(固定台可选)
3. 激光定位和自动多点测量功能。
4. 可检测固体、粉末状态材料。
5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
9. 软件*升级。
10. 无损检测,一次性购买标样可长期使用。
11. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务。
12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
13. 可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。
(二)产品特征
1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2. 计算机/ MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
3. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。
可以增加RoHS检测功能。
4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
5. 测试能力(基本配置:PIN探测器+0.3准直器)
当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S
准确度规格±5%
精确度规格<5%(COV变动率)
当化金厚度>5u〞时,测量时间为40S
准确度规格±5%
精确度规格<5%(COV变动率)
当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S
准确度规格±8%
精确度规格<7%(COV变动率)
测化锡时,测量时间为40S
准确度规格±8%
精确度规格<6%(COV变动率)
准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*99%
精确度COV公式: (S/10次平均值)*99%
6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。测量点数量 =每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
产品配置及技术指标说明
测量原理:能量色散X射线分析 | 样品类型:固体/粉末 |
X射线光管:50KV,1mA | 过滤器:5过滤器自动转换 |
检测系统:Pin探测器(可选SDD) | 能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
检测元素范围:Al (13) ~ U(92) | 准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选) |
应用程序语言:韩/英/中 | 分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光 |
仪器尺寸:840*613*385mm | 样品移动距离:220*220*10 mm(自动台) |
1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)
微焦点X射线管、Mo (钼)靶
铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。
50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供性能。
2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 滤光片/可选
初级滤光片:Al滤光片,自动切换
7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
4. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
5. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围:3mm x 3mm
- 放大倍数:40X
- 照明方法:上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 计算机、打印机(赠送)
1) 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
2) 含Win 7/Win 10系统。
3) Multi-Ray镀层分析软件
注:设备需要配备稳压器,需另计。