iEDX-150WT膜厚仪(X射线镀层测厚仪)

iEDX-150WT膜厚仪(X射线镀层测厚仪)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-07-12 14:11:11
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广州鸿熙电子科技有限公司

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产品简介

iEDX-150WT膜厚仪镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高。

详细介绍

公司介绍

 

广州鸿熙电子科技有限公司于2013年7月13日成立。公司位于珠三角交通枢纽广州市增城区新塘镇。创始人在跨国科研仪器公司任职逾12年,对科研仪器行业有非常丰富的经验。

公司的分析光谱仪,集镀层厚度、金属成份分析、RoHS检测于一体,具备*的性价比。产品广泛应用于电子制造、矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械等行业对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着*的经济价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证,本公司所生产的分析光谱仪的度及性能居同行业地位。

公司研发队伍强劲,并与韩国X射线研究所、美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授携手合作,以欧美现有技术为基础,在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时,还拥有40多项*的技术和差异化产品,多项核心技术处于水平。公司与韩国ISP的合作产品在中国大陆主要以客户为主,其以优质的性价比获得了客户的*。

 

膜厚仪产品优势及特征

(一)产品优势

1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述

2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm(固定台可选)

3. 激光定位和自动多点测量功能。

(二)产品特征

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

可以增加RoHS检测功能。

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

 

   当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±5% 

   度规格 <5%(COV变动率)

 

   当化金厚度 >5u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±5%

   度规格 <5%(COV变动率)

 

   当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

      度规格 <7%(COV变动率)

 

   测化锡时,测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

   度规格 <6% (COV变动率)

 

      准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*99%

   度COV公式: (S/10次平均值)*99%

 

 

 

膜厚仪产品配置及技术指标说明

 

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:Pin探测器(可选SDD)

u能量分辨率:159eVSDD:125eV

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:840*613*385mm

u样品移动距离:220*220*10 mm(自动台)

 

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo ()

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供性能。

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 计算机、打印机(赠送)

注:设备需要配备稳压器,需另计

 

 

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