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华碧实验室依托强大的专业技术团队，建立了的失效分析案例数据库，拥有丰富的检测仪器设备资源。华碧主要利用X-Ray、SAM和HASS对批量电子元器件进行筛选，从中区分出元器件和翻修品、与仿制品、性能良品和次品，为元器件供应商、销售商提供真假和性能甄别的依据。
检测流程
| 开箱拍照 | Unboxing Picture |
| 清点数量 | Counting Quantity |
| VI（外观检测） | Visual Inspection |
| 无损检测 | Nondestructive Testing |
| 表面mark检测 | Surface Mark Testing |
| Datasheet比对 | Datasheet Comparison |
| 功能测试 | Functional Testing |
| De-cap比对log | De-cap Comparison Log |
| 确认引脚上有无铅 | Confirmation The Lead on the Electronic Pin |
| MSL检查核对 | MSL Checking And Verification |
| 可焊性检测 | Welding Property Testing |
| 环境测试及分析（SEAT） | Environmental Testing And Analysis |
产生的效益
保证元器件的可靠性，选出元器件内部构造品质好、各类焊点焊接质量好、封装无分层等工艺质量好的元器件
发现并剔除在制造、工艺和材料方面的缺陷和隐患
区分元器件和返修品、与仿制品、性能良品和次品
暴露使用过程中可能出现的不安全因素，避免造成更大的损失
技术优势
完备的设备，专业的研究团队，雄厚的科研基础积累和支持
为元器件供应商、实验室及终端客户提供全供应链解决方案
服务能力覆盖元器件检验、点货、抽样、代发货和送货等环节
提供快速高效的筛选和验货服务，应急服务当天完成，正常业务三天完成
服务模式
按检测项目计费
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