XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪
XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪
XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪

XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪

参考价: 订货量:
￥ 12.27 1台

具体成交价以合同协议为准
2022-09-26 15:38:03
321
产品属性
关闭
福建赫鑫科技有限公司

福建赫鑫科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

性能优势：1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量

详细介绍

性能优势：

1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）

2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

4.*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。

5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。

6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。

核心的EFP算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，多元迭代开发出EFP核心算法，结合*的光路转换的技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。









上一篇：镀层测厚仪的具体操作流程介绍 下一篇：品质管控 | JPSPEC镀层测厚系列在汽车零部件镀层分析中的应用优势
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话：