二次元Z轴影像测量仪

EVM-2515二次元Z轴影像测量仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-12-16 15:16:58
209
属性:
产品种类:在线;数显功能:有;温控功能:无;
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宁波森泉科技有限公司

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产品简介

二次元Z轴影像测量仪:检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度;多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形,提高测量精度;几何区点、线、圆/圆弧及直线端点、中点,圆心、象限点自动捕捉。同轴光影像较普通的要清晰。

详细介绍

二次元Z轴影像测量仪简介:

EVM二次元Z轴影像测量仪由宁波森泉科技有限公司158 6951 8843现货销售,

半自动影像测量仪基本功能:
●笛卡尔坐标/极坐标转换 ●相对/工作坐标转换
●公/英制转换 ●度/度分秒转换
●点/点群  ●两点/多点求线
●三点/多点求圆及弧  ●B-spline线
●两点间的距离  ●两线间的平均距离
●点线间的距离  ●两圆心距离
●圆线距离  ●两线间的夹角及交点

影像仪2.5.jpg


半自动影像测量仪特殊功能
1.软件控制光源。上光源为四相灯,下光源为直光源,增加机器适应性能。
2.量测工件无需调节摆正,软件提供坐标平移、旋转、摆正。
3.直接在影像及几何区标注/移动尺寸。直线修剪、延伸功能。
4.几何区点、线、圆/圆弧及直线端点、中点,圆心、象限点自动捕捉。
5.调节CCD参数设定,提高自适应力;去除毛边功能,以正确取得量测数据。
6.利用影像工具快速自动抓取基本几何轮廓边界点,直接拟合成线、圆、弧。
7.量测区工件放大摄像图形化输出,转成(.bmp、.jpg)。
8.测量数据化输出,转成WORD (.doc) 、EXCEL (.xls)。
9.SPC功能,直接输出管制图、制程能力指数,转成WORD、EXCEL
10.机械图形直接输出.dxf格式,实现2D抄数功能 ,与AutoCAD、等其它软件无缝联接。
11.可转入.DXF格式文件,与工件实物或测量图形进行比对。并可直接在影像区任取两点得到误差测量值。
12.提供平面内直线度、圆度、角度分析,进行有效之品质检验
13.机台精度补偿,提高量测精度。
14.软件可以对多变形、槽形、圆弧倒角、虚拟测量。
15.重新测量功能:该功能可对已测量过的元素,重新改变测量方法,灯光,倍率等,然后会刷新测量数据,并且与其相关的元素数据也会刷新(如:两线构造距离,如果其中一条线重新测量了,那么距离元素数据也会重新刷新)。
16.修改编辑及查看寻边状况:软件可以修改编辑任何测量元素的寻边范围,光源亮度,倍率等。还可以查看之前测量的某个元素的寻边状况(包括寻边的位置,所用的光源亮度,倍率及所采的原始点等),以便用户掌控测量的全过程的状况.
17. 可以修改元素名称及尺寸名称,以与客户图纸一致:客户可以任意修改元素的名称及尺寸名称。如:可以C1(圆1) 修成你想要的名称. 并可以C1的半径,直径,周长,面积等等名称改成你想要的,以便*符合图纸的需求.

半自动影像测量仪特点
机身主体采用高精密天然花岗岩,具有稳定的温度特性和抗时效变形能力,保证测量的稳定性及长期使用的精度。
所有怡信的光学影像测量仪均标配由本公司自行开发的F-1高精度全闭环自动变倍光学镜头,高性能,超低畸变,保证测量的精确度。
高精度全闭环自动变倍光学镜头                               
      远心光学原理:采用平行光路径光学设计,物体影像的尺寸不会随着与镜头的距离而改变,造成透视的效果产生额外的测量误差。
自动变倍光学远心镜头(Telecentric),怡信专业制造,主要是为纠正传统镜头的视差而特殊设计的镜头,它可以在一定的物距范围内,使得到的图像放大倍率不会随物距的变化而变化,这对被测物不在同一物面上的情况是非常重要的应用。

影像仪3.jpg


规格型号: EVM-2515

测量范围(mm)

外形尺寸(mm)

主机重量(Kg)

极大承受重量(Kg)

X

Y

Z

L

W

H

250

150

150

1350

800

1520

170

20

测量精度

光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm)

2.0+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm)

2.5+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

二维探测误差:PF2D(μm)

2.0        MPE符合JJF 1318-2011

影像测头探测误差:PFV2D(μm)

2.0        MPE符合JJF 1318-2011

规格型号: EVM-3020

测量范围(mm)

外形尺寸(mm)

主机重量(Kg)

极大承受重量(Kg)

X

Y

Z

L

W

H

300

200

200

1350

800

1700

280

20

规格型号: EVM-4030

测量范围(mm)

外形尺寸(mm)

主机重量(Kg)

极大承受重量(Kg)

X

Y

Z

L

W

H

400

300

250

1800

1200

1900

390

20

测量精度

光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm)

2.0+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm)

2.5+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

二维探测误差:PF2D(μm)

2.5        MPE符合JJF 1318-2011

影像测头探测误差:PFV2D(μm)

2.5        MPE符合JJF 1318-2011

影像仪室温度要求:

房间温度 (温控间)   

18~22°C

温度梯度(时间)

1°C /h

温度梯度(时间)

2°C /24h

温度梯度(空间) 

1°C /m

影像仪室湿度要求:

空气相对湿度

40-70%

电源要求:

电压

220V ± 10%

频率

50/60 Hz

震动

15Hz以下<0.001g

耗电量

1000VA

用电设备要求接地可靠:接地电阻小于4欧姆



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