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力可RHN600高温石墨坩埚 619-895-LECO耗材
面议力可高温石墨坩埚 782-720-LECO耗材
面议力可RH1-EN石墨坩埚 764-330-LECO耗材
面议力可标准石墨坩埚 776-247-LECO耗材
面议力可外石墨坩埚 775-433-LECO耗材
面议力可内石墨坩埚 775-431-LECO耗材
面议力可锡囊 502-040-LECO耗材
面议钨粒助熔剂763-266-LECO 实验室耗材
面议钨锡助熔剂501-008-LECO 实验室耗材
面议纯钨助熔/钨粒助熔剂9T-1027 实验室耗材
面议美国铝业A356 铝合金光谱标样KC-356
¥1200SUS G/8 铁基高低标漂移校正标样
¥1200一、美国Premier XRF样品膜:
美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。
美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。
X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。
二、Premier 样品膜特点:
有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择;
柔韧性强、方便、耐用;
X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪;
抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品;
(几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的*检测。
三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:
日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
四、XRF样品膜目录:
美国Premier X-ray样品膜种类:
(1)、Hostaphan膜;
(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;
(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;
(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。
二、Premier 样品膜特点:
有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择;
柔韧性强、方便、耐用;
X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪;
抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品;
(几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的*检测。
CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述
荧光光谱仪XRF样品膜 TF-475-3 Kapton膜
荧光光谱仪XRF样品膜 TF-475-3 Kapton膜