两箱冷热冲击试验机

两箱冷热冲击试验机

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具体成交价以合同协议为准
2022-07-12 13:57:52
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上海宝试检测设备有限公司

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产品简介

两箱冷热冲击试验机分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击,本产品可做冷热冲击,也可以做单独高温或低温使用

详细介绍

一、两箱冷热冲击试验机简介:

 冷热冲击试验箱根据待测试样品的特殊性,分为两箱式动态冲击试验机和三箱式静态冲击试验机(提篮式与半封闭式),本设备可做冷热冲击,也可以做单独高温试验或低温试验。广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。


二、两箱冷热冲击试验机技术参数:

型号

BS-40H

BS-80H

BS-100H

BS-150H

BS-252H

BS-450H

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

500*450*450

600*500*500

700*600*600

800*750*750

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1500*1950*1600

1300*1230*1670

1750*2120*1970

1900*2270*2210

重量(KG)

700

900

1100

1200

1400

1900

温度范围

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区: 60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤5sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

AC380V ±10%V 50HZ/60HZ


三、满足标准:

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验

第2部分:试验方法温度变化试验导则

4. GJB360B-2009温度冲击试验

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件



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