专业高低温试验箱快速温变
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DR-H201S专业高低温试验箱快速温变

参考价: ¥21600~¥58000/台

具体成交价以合同协议为准
2024-06-12 15:52:23
70
属性:
产地:国产;降温时间:60℃/min;升温时间:3℃/min;是否防爆:常规型;温度波动度:2℃;温度范围:常规型,-60~150℃;温度均匀度:0.5℃;温度偏差:1℃;制冷方式:压缩机制冷;
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产品属性
产地
国产
降温时间
60℃/min
升温时间
3℃/min
是否防爆
常规型
温度波动度
2℃
温度范围
常规型,-60~150℃
温度均匀度
0.5℃
温度偏差
1℃
制冷方式
压缩机制冷
关闭
广东德瑞检测设备有限公司

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产品简介

专业高低温试验箱快速温变的测试流程包括需求分析、设备与试样准备、试样安装、参数设置、测试监控、数据记录、测试结束处理、结果分析、后续改进和文档归档等关键步骤。流程确保了半导体器件在温度下的性能和可靠性得到准确评估,并通过严格的测试监控与数据分析,为产品的改进和质量保证提供科学依据。最终,测试结果编制成报告,并进行文档归档,以支持半导体行业的创新发展和产品质量提升。

详细介绍

广东德瑞检测设备有限公司产品特点和优势:

1、产品系列齐全:提供从小型到大型的高低温试验箱,满足不同规模和需求的测试。

2、节能环保:产品设计注重能效,采用高效压缩机和环保冷媒,降低能耗。

3、质量稳定:选用优质进口元器件,严格质量控制,确保设备长期稳定运行。

4、安全高效:设备操作简便,具备多重安全保护措施,提高测试效率。

5、技术参数详细:如型号DR-H201-150K的试验箱,提供不同容积选择,内箱尺寸、制冷方式、保温材质等均有明确参数。

6、符合国际标准:产品符合GB、GJB、ISO、IEC等多项国内外标准,满足不同市场的要求。

7、定制服务:根据客户需求提供定制化解决方案,满足特殊测试需求。

8、售后服务完善:提供专业的技术支持和售后服务,确保客户使用无忧。

产品型号DR-H201-100DR-H201-150DR-H201-225DR-H201-408DR-H201-800DR-H201-010
内形尺寸:D×W×H450×450×500500×500×600500×600×750600×850×800800×1000×10001000×1000×1000
外形尺寸:D×W×H1100×870×16001150×920×17001150×1020×18501350×1220×20001450×1420×21001650×1420×2100
温度范围(任选)-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃
湿度范围30%~98% R.H
温度波动度≤±0.5℃
温度均匀度≤±2℃
湿度波动度+2、-3%R.H
升温速率1.0~3.0℃/min
降温速率0.7~1.2℃/min
时间设定范围0~9999小时
电源要求AC220(±10%)、AC380(±10%)V/50HZ  三相五线制
载物托架(标配)2块
备注除以上标准尺寸和技术参数外,另可根据用户要求制定非标尺寸及技术参数

高低温试验箱快速温变内箱容量:

80升内箱尺寸(宽*高*深):400X500X400mm

150升内箱尺寸(宽*高*深):500X600X500mm

225升内箱尺寸(宽*高*深):600X750X500mm

408升内箱尺寸(宽*高*深):600X850X800mm

800升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X800mm

1000升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X1000mm

专业高低温试验箱快速温变符合标准:

GB/T 10592-2008  高低温试验箱技术条件标准

GB/T 10586-2006  湿热试验箱技术条件标准

GB/T 2423.1-2008  电工电子产品环境试验 第2部分_ 试验方法 试验A_  低温

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分_ 试验方法 试验B_ 高温

GB/T 2423.3-2016 电工电子产品基本环境试验规程 试验 Ca:恒定湿热试验方法

GB/T 2423.4-2016 电工电子产品基本环境试验规程 试验 Db:交变湿热试验方法等。

专业高低温试验箱快速温变控制仪表特点:

1、大屏幕操作界面:采用5.7寸LED显示器,提供清晰的显示效果和直观的操作体验。

2、简化的操作流程:无需传统按键输入,直接通过触摸屏进行选项选择和程式编辑。

3、多语言支持:控制器界面提供中英文选择,适应不同用户需求。

4、实时数据展示:能够实时显示运转曲线图,方便用户监控设备状态。

5、强大的程式容量:支持120组程式,每组99段,每段可循环999步骤,时间设定最长99小时59分。

6、安全性设计:具备荧屏锁定功能,防止误触导致的设备停机。

7、远程通讯能力:通过RS-232或RS-485通讯界面,实现电脑远程控制和数据监控。

8、自动校正功能:内置自动演算功能,即时修正温湿度变化,确保控制的精确性和稳定性。


高低温环境实验箱测试流程详解:

1. 需求分析与计划制定

在测试前,首先明确测试需求和目标,根据半导体器件的特性和预期应用场景,制定详细的测试计划。这包括确定测试的温度范围、温变速率、测试持续时间等关键参数。

2. 设备与试样准备

选择符合测试要求的高低温环境实验箱,并进行必要的设备检查和预热,确保设备处于最佳工作状态。同时,准备待测试的半导体器件样品,进行编号和预处理。

3. 试样安装与布局

将半导体器件样品按照规定的要求放置在实验箱内,注意样品间的距离和方向,避免相互干扰,确保空气流通和温度均匀性。

4. 参数设置与程序输入

根据测试计划,设置实验箱的温度参数,包括最高温度、低温度、升温速率、降温速率等。输入测试程序,确保设备按照预定的模式运行。

5. 启动测试与监控

启动高低温环境实验箱,开始测试程序。在测试过程中,实时监控设备运行状态和样品表现,记录任何异常情况。

6. 数据采集与记录

使用数据采集系统记录测试过程中的关键数据,包括温度变化、时间、样品性能指标等,为后续分析提供详实的数据支持。

7. 测试结束与样品恢复

测试完成后,按照安全操作规程关闭实验箱,取出样品,并在室温下进行恢复,以减少温度变化对样品造成的影响。

8. 结果分析与报告编制

对采集到的数据进行详细分析,评估半导体器件在不同温度下的性能表现。根据分析结果编制测试报告,提出改进建议或确认样品性能。

9. 后续跟踪与改进

根据测试报告的反馈,对半导体器件进行必要的改进,并进行后续的跟踪测试,以验证改进措施的有效性。

10. 测试文档归档

将测试计划、测试数据、分析报告等文档进行归档保存,以备未来参考和审计使用。

选型策略建议推荐用户优先选择东莞高低温试验箱标准机型,以获得更快的交货期和更有保障的质量。同时,对于有特殊需求的用户,我们提供定制服务,包括非标准产品或OEM产品制造。

专业高低温试验箱

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