美国FLUKE(福禄克) RaySafe X2 R/F拍片/透视辐射质控检测传感器的简介：
X2 R/F 传感器采用的堆叠传感器技术，可防止足跟效应对测量的影响。并且其较小的辐射足迹最大限度地减少了对 X 光机自动曝光控制的影响。两者都可以更轻松地定位传感器并获得最准确的读数。
X2 R/F 传感器可用于所有射线照相和荧光透视应用，无需选择范围或模式。它能够在一次曝光中测量所有放射学参数，例如剂量、剂量率、kVp、HVL、总过滤、曝光时间、脉冲、脉冲率和剂量/脉冲。可以直接在基本单元上分析 kV 和剂量率的波形。X2 R/F 传感器可用于射线照相和荧光检查机器以及牙科机器，并可在 CT 机器上测量 kVp 和 HVL。
基本单元有一个可选的内置传感器，用于测量 mA、mAs、曝光时间、脉冲、脉冲率和 mA 波形。当同时使用 R/F 和 mA 传感器时，RaySafe X2 将同时显示 12 个参数，包括相应的波形。只需一个简单的步骤即可获得您需要的一切。

美国FLUKE(福禄克) RaySafe X2 R/F拍片/透视辐射质控检测传感器的特征：
用于常规 X 射线、介入放射学、手术、CR、DR、牙科（口内、全景、CBCT）和 CT（kVp、HVL 和仅时间）。
测量剂量、剂量率、kVp、曝光时间、脉冲、脉冲率和剂量/脉冲。
选项包括 HVL 和总过滤以及侵入式 mAs 测量。
一种动态范围涵盖荧光检查所需的低剂量率以及 CT 高达 150 kV 的 kV 范围。

美国FLUKE(福禄克) RaySafe X2 R/F传感器的优点：
无选项
不依赖于方向
很小的影像印记