键盘按键寿命试验机

YTX-KLT-E，源泰鑫仪器

本机可测试笔记本计算机、手机、掌上计算机等的按键和其它各种按钮、开关的耐久寿命。

能同时测试数个产品（每个产品均可多点测试），另每个按键可设定不同压力及不同高低的按压力。

技术规格：

动作行程 10mm（固定）

工件高低调整范围 100mm

夹具夹持能力 400×300mm

测头安装范围 350×250mm

试验次数 999999×10次

试验速度 60-300Rpm

荷重范围 50-450g

测头高低调整 15mm

测头数量 15个

两支测头最小间隔

X方向10mm,Y方向20mm

外观尺寸 520×420×980mm

重量 110kg

电压 AC 220V