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高度游标卡尺|MC014
面议游标卡尺|MC014
面议MC012系列表面轮廓粗糙度测量仪(2207)
面议MC020系列表面粗糙度测量仪(2206B)
面议MC020系列表面粗糙度测量仪(2205A)
面议MC020系列表面粗糙度测量仪(2205)
面议MC030系列YRMAT2012H双轴光电自准直仪(12米1秒)
面议MC020系列便携式表面粗糙度测量仪(T1000A)
面议MC020系列激光粗糙度测量仪(TRL400)
面议YRMAT2020H双轴光电自准直仪(20米1秒)
面议YRMAT1815H双轴光电自准直仪(15米1秒)
面议MC016系列石墨消解仪(KDNX-20)
面议MC016系列显微熔点仪(数显)
MC016系列(SGW X-4)
一、SGW X-4显微熔点仪(数显)应用范围:
应用范围:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
二、SGW X-4显微熔点仪(数显)技术参数:
1、熔点测量范围:室温至
2、测量重复性:±
±
3、光学放大倍数:目镜10X;物境4X