天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的性能特点：满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；采用高度定位激光，可自动定位测试高度；定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；高分辨率探头使分析结果更加精准；良好的射线屏蔽作用；测试口高度敏感性传感器保护。
以下是艾克赛普为您介绍天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的技术参数，如有相关问题，请联系长沙艾克赛普，联系电话： 。
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的标准配置：开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器。保护传感器。计算机及喷墨打印机。
如果您需要天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪及天瑞品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门： 。
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