天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业
天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪的性能特点：长效稳定X铜光管；半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷；内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品；脉冲处理器，数据处理快速准确；手动开关样品腔，操作安全方便；三重安全保护模式；整体钢架结构、外型高贵时尚；FP软件，无标准样品时亦可测量。
以下是艾克赛普为您介绍天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪的技术参数，如有相关问题，请联系长沙艾克赛普，联系电话： 。
型号：THICK600
分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，最小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
仪器重量：30kg
如果您需要天瑞Skyray Thick600 X荧光镀层测厚仪及天瑞品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门： 。
关键词：
