LEXT OLS4500-奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4500-上海百贺仪器科技有限公司手机版

详细介绍

江南仪器为您提供奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4500的方案介绍：

奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4500可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此，*光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法，可以容易的发现观察对象。此外，对于光学显微镜难以找到的观察对象，还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉（DIC）观察中，可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。

实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法，不会丢失观察对象。此外，该款显微镜可以进行纳米级观测。

OLS4500实现了无缝观察和测量

【发现】可以迅速发现观察对象

使用光学显微镜的多种观察方法，迅速找到观察对象

OLS4500采用了白色LED光源，可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜，涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长，除了使用的明视场观察（BF）以外，还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比，达到视觉立体效果的微分干涉观察（DIC），以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外， OLS4500上还配有HDR功能（高动态范围功能），该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成，来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。


BF 明视场使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。	DIC 微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差，添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。

简易偏振光照射偏振光（有着特定振动方向的光线），使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。	HDR　高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成，可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外，还可以强调纹理（表面状态），进行更精细的观察。

实现了无缝观察，不会丢失观察对象

OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜，以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中，由于SPM扫描范围一直显示于视场中心，所以把观察目标点对准该位置后，只要切换到探针显微镜，就能够正确接近观察对象。因此，只需1次SPM扫描就能获取目标影像，从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。

主机规格
LSM部分	光源、检出系统			光源：405 nm半导体激光、检出系统：光电倍增管
	总倍率			108～17,280X
	变焦			光学变焦：1～8X
	测量	平面测量	重复性	100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm
		平面测量	正确性	测量值的±2%以内
		高度测量	方式	物镜转换器上下驱动方式
			行程	10mm
			内置比例尺	0.8nm
			移动分辨率	10nm
			显示分辨率	1nm
			重复性	100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm
			正确性	0.2+L/100 μm以下（L＝测量长度）
	彩色观察部分		光源、检出系统	光源：白色LED、检出系统：1/1.8英寸200万像素单片CCD
	彩色观察部分		变焦	码变焦：1～8X
	物镜转换器			6孔电动物镜转换器
	微分干涉单元			微分干涉滑片：U-DICR、内置偏振光片单元
	物镜			明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100X
	Z对焦部分行程			76 mm
	XY载物台			100 x 100 mm（电动载物台）
SPM部分			运行模式	接触模式、动态模式、相位模式、电流模式、表面电位模式（KFM）、磁力模式（MFM）*
			位移检出系统	光杠杆法
			光源	659 nm半导体激光
			检出设备	光电检测器
			扫描范围	X-Y： 30 μm x 30 μm、Z： 4.6 μm
			安装微悬臂	在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位，更换支架时无需光学调整。
系统			总重量	约440 kg（不包含电脑桌）
系统			I额定输入	100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz

*该功能为选项功能。

物镜规格
型号	倍率	视场	工作距离（W.D.）	数值孔径（N.A.）
MPLFLN5X	108-864X	2,560-320μm	20.0mm	0.15
MPLAPON20XLEXT	432-3,456X	640-80μm	1.0mm	0.60
MPLAPON50XLEXT	1,080-8,640X	256-32μm	0.35mm	0.95
MPLAPON100XLEXT	2,160-17,280X	128-16μm	0.35mm	0.95

微悬臂规格
用途	型号	类型	探针数量	微悬臂		探针		材质	金属膜涂层
用途	型号	类型	探针数量	共振频率 (kHz)	弹簧常数 (N/m)	高度 (μm）	前端半径 (nm）	探针／微悬臂	探针涂层／反射涂层
动态模式／相位模式	OMCL-AC160TS-C3	标准硅胶	24	300	26	14	7	Si / Si	无 / Al
	OMCL-AC160BN-A2	高纵横比硅胶	12	300	42	9	8	Si / Si	无／无
	OMCL-AC240TS-C3	低弹簧常数硅胶	24	70	2	14	7	Si / Si	无／Al
接触模式	OMCL-TR800PSA-1	标准氮化硅	34	73 / 24	0.57 / 0.15	2.9	15	SiN / SiN	无／Au
表面电位模式	OMCL-AC240TM-B3	电气测量专用硅胶	18	70	2	14	15	Si / Si	Pt/Al

• 微悬臂、探针的机械特性及尺寸均为代表值。
• 微悬臂非常小，请注意不要伤到眼睛或不小心吞咽。
• 电流模式、磁力模式中使用的微悬臂的详细信息，请咨询经销商。
• 除上表以外，还有其他规格的微悬臂。经销商。


BF 明视场使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。	DIC 微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差，添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。

简易偏振光照射偏振光（有着特定振动方向的光线），使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。	HDR　高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成，可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外，还可以强调纹理（表面状态），进行更精细的观察。

产品简介

详细介绍