微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

　　微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

　　基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al?到92U 的固体或液体样品。

　　X-Strata920

　　X-Strata920

　　正比计数器或高分辨率 SDD

　　元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（SDD）

　　样品舱设计：开槽式

　　XY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台

　　样品尺寸：270 x 500 x 150毫米

　　数量准直器：6

　　滤光片：1

　　小的准直器： x 毫米( x10 mil)

　　SmartLink 软件

　　FT110A

　　FT110A

　　正比计数器系统

　　元素范围：钛 - 铀

　　样品舱设计：开闭式或开槽式

　　XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

　　样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

　　数量准直器：4

　　滤光片：初级 1，二级（可选）1

　　小的准直器： 毫米

　　X-ray Station 软件

　　EA6000VX

　　EA6000VX

　　高分辨率 SDD

　　元素范围： 镁 - 铀（使用氦气吹扫时钠 - 铀 ）

　　样品舱设计：开闭式

　　XY 轴样品台选择：自动台

　　样品尺寸：270 x 220 x 150 毫米

　　数量准直器：4

　　滤光片：6 种模式自动切换

　　小的准直器： 毫米

　　X-ray Station & Mapping Station 软件

　　FT150

　　FT150

　　高分辨率 SDD

　　元素范围： 铝 - 铀

　　样品舱设计：开闭式

　　XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台

　　样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

　　滤光片：1 或 3

　　毛细聚焦管 < 35 μm

　　XRF控制软件