HORIBA XGT-1000WR主要技术指标：

1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型）

2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、 检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm（高150 mm）

4、X射线照射径：φ1.2 mm（可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换）

5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

6、 设备重量：约 265 kg（不含桌子、计算机）

7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8、 信号处理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

                    HORIBA拥有堀场制作所拥有70多年的X射线分析技术沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。其X荧光光谱仪被广泛推荐使用，广泛应用于RoHS，ELV，WEE的检测和过程控制