RX200红外线测厚仪RX200
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产品介绍
正反射P偏光型标准在线膜厚计!消除了引起误差的表面反射,可以正确进行测量。
如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。
并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪的硬件。
用途例
规格
| 项目 | 规格 | |
|---|---|---|
| 测量方法 | 红外线反射吸收式 | |
| 分光方式 | 旋转过滤器方式（可以实际安装6张） | |
| 测量距离 | 25mm（从本体部下面） | |
| 测量面积 | 5×8mm（椭圆） | |
| 尺寸、重量、电源 | 传感器头 | 230（W）×134（D）×90（H）、约4.5kg（不含突起部） |
| 数据处理部 | 275（W）×300（D）×165（H）、约6.7kg（不含突起部） | |
| 中继单元部 | 250（W）×140（D）×113（H）、约3kg（不含突起部） | |
| 外部输出 | 从模拟0～10v 到4～20mA进行选择（出厂时设定） | |
| 环境温度 | 0～40℃（没有结露） | |
| 电源 | AC100V±10％ 50/60Hz | |
