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lexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。
· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率
· 凭借的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现的画质
· 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位
· 大直径（30毫米2）无氮EDS检测器，可快速进行元素分析*2
| 项目 | 内容 |
| 分辨率*3 | 4.0 nm（二次电子像、加速电压：20 kV、高真空模式） |
| 加速电压 | 0.3 kV～20 kV |
| 倍率 | ×6～×300,000 （照片倍率） |
| 低真空设置 | 6～100 Pa |
| 电子枪 | 集中灯箱（Pre-Centered Cartridge Filament） |
| 样品台 | 3轴马达驱动样品台 |
| 样品尺寸 | 直径80 mm（选配：直径153mm） |
| 样品高度 | 40 mm |
| 尺寸 | 机体：450（宽度）×640（进深）×690（高度） mm |
| 选项 | · 高敏感度低真空检测器（UVD2.0） · 能量色散型X射线检测器（EDS） |
| 软件 | Multi Zigzag（连续视野图像导入功能） |
