德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪-北京华仪通泰环保科技有限公司手机版

详细介绍

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德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层，例如：装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液

我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数：

通用规格
设计用途	能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围	从元素氯（17）到铀（92）
元素范围	配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多时可同时测定24种元素
设计理念	台式仪器，测量门向上开启
测量方向	由上往下
X射线源
X射线管	带铍窗口的钨管
高压	三档：30KV，40KV，50KV
孔径（准直器）	φ0.3mm　可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm
测量点尺寸	取决于测量距离及使用的准直器大小
	实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
	较小的测量点大小约φ0.2mm
X射线探测
X射线接收器	比例接收器
测量距离	0~80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法
样品定位
视频系统	高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
	手动聚焦，对被测位置进行监控
	十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
	可调节亮度的LED照明，激光光点用于准确定位样品
放大倍数	40x~160x
电器参数
电源要求	200V，50Hz
功率	很大120W（不包括计算机）
保护等级	IP40
尺寸规格
外部尺寸	宽x深x高（mm）：570x760x650
内部测量室尺寸	宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品较大高度”部分的说明）
重量	107KG
环境要求
使用时温度	10℃~40℃
存储或运输时温度	0℃~50℃
空气相对湿度	≤95%　无结露
工作台
设计	手动X/Y平台
X/Y平台较大移动范围	92x150mm
可用样品放置区域	420x450mm
Z轴	马达驱动
Z轴移动范围	140mm
样品很大重量	20KG
样品很大高度	140mm
激光（1级）定位点	有
计算单元
计算机	带扩展卡的Windows®计算机系统
软件	标准：WinFTM®V.6 LIGHT
软件	可选：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER
执行标准
CE合格标准	EN 61010
型式许可	作为受保护的仪器
型式许可	型式许可符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定