FN-IV降落数值测定仪 谷物中活性 检测小麦面粉发芽损伤
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FN-IVFN-IV降落数值测定仪 谷物中活性 检测小麦面粉发芽损伤

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2023-04-19 11:48:41
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降落值仪的详细介绍FN降落值测定仪是测定谷物中活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物、尤其是小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器

详细介绍

降落值仪的详细介绍

FN降落值测定仪是测定谷物中活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物、尤其是小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器。用户可根据实际需要选择带打印和不带打印功能。

降落值仪的方法原理:

谷物粉(如小麦粉)的悬浮液在沸水浴中迅速煳化,并因其中α—活性的不同而使煳化物的淀粉不同程度的被液化,液化程度不同,搅拌器在煳化物中下降速度不同,降落值的高低也就表明了相应的α—活性的差异。降落值愈低表明α—的活性愈高。

降落值是以搅拌棒在煳化液自由下降一段特定高度所需的秒数来表示的。

降落值仪的技术参数(执行GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉、杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定法》标准):

搅拌棒质量:25±

水浴桶加热管:600W

粘度管:内径 21±

外径:±

内壁高:220±

重复性:两次测定结果之差不得超过平均值的10%

仪器尺寸:420×340×350mm

仪器重量:25kg

工作电压:AC 220V 50Hz



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