磁粉探伤试片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型试片 ,D型试片,C型试片
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磁粉探伤用试片A1、A2、D、C、M1型主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液综合性能。了解被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。
标准试片A1、A2、D、C、M1型规格中:
名称 | A型试片 | D型 | C型 | M1 | ||
试片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
试片长度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
试片宽度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
分割线间隔毫米 | | | | 5±0.5 | | |
圆形人工槽直径毫米 | 高灵敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
中灵敏度 | | | | | 9 | |
低灵敏度 | | | | | 6 | |
十字人工槽长度毫米 | 高灵敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
中灵敏度 | | | | | | |
低灵敏度 | | | | | | |
人工槽深度 微米 | 高灵敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
中灵敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
低灵敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
人工槽宽度 微米 | 60—180 |
标准试片使用方法:
标准试片适用于连续磁化法,使用时应将试片无人工缺陷的面朝外,为使试片与被检面接触良好,可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上,并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。
磁粉检测时一般应选用A130/100型标准试片。当检测坡口狭小部位,由于尺寸关系可选择适合大小的试片检测;当用户需要或技术文件有规定时,可选用规定的试片检测。
标准试片在检测前用柔软纸或纱片将试片表面油擦去;检测后请防锈。
标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。
A1、A2试片外型规格一样。A1试片经过退火处理;A2试片未经过退火处理。
C型标准试片可剪成5个小试片分别使用。
磁粉探伤用试片使用说明
磁粉探伤用试片A1、A2、D、C、M1型主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液综合性能。了解被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。
名称 | A型试片 | D型 | C型 | M1 | ||
试片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
试片长度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
试片宽度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
分割线间隔毫米 | | | | 5±0.5 | | |
圆形人工槽直径毫米 | 高灵敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
中灵敏度 | | | | | 9 | |
低灵敏度 | | | | | 6 | |
十字人工槽长度毫米 | 高灵敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
中灵敏度 | | | | | | |
低灵敏度 | | | | | | |
人工槽深度 微米 | 高灵敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
中灵敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
低灵敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
人工槽宽度 微米 | 60—180 |
标准试片A1、A2、D、C、M1型规格中:
标准试片使用方法:
标准试片适用于连续磁化法,使用时应将试片无人工缺陷的面朝外,为使试片与被检面接触良好,可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上,并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。
磁粉检测时一般应选用A130/100型标准试片。当检测坡口狭小部位,由于尺寸关系可选择适合大小的试片检测;当用户需要或技术文件有规定时,可选用规定的试片检测。
标准试片在检测前用柔软纸或纱片将试片表面油擦去;检测后请防锈。
标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。
A1、A2试片外型规格一样。A1试片经过退火处理;A2试片未经过退火处理。
C型标准试片可剪成5个小试片分别使用。